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Autores Aperador Chaparro, William Aperador Chaparro, Escobar Mosquera, Andrés Felipe, Bautista Ruiz, Jorge Hernando
Publicado 2011-06-01
Descripción:
“... microscopía electrónica de barrido (SEM) para observar el deterioro generado por la exposición al medio...”Publicado 2011-06-01