Resultados de búsqueda - Análisis del sector;

$Dispositivo de alineación de muestras para el difractómetro de rayos X con control de posición e interfaz de manipulación$

Autores Jiménez-Novoa, Daniel Santiago, González-Bustamante, Johann Sebastián, Aperador-Chaparro, William
Publicado 2016-01-01

Descripción: “... soporte de distintos tamaños de muestras para el análisis de difracción de rayos X, que controla la...”