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Mostrando 1 - 1 Resultados de 1 Para buscar 'Microscopia electrónica de barrido;', tiempo de consulta: 0.04s Limitar resultados
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    Caracterización de recubrimientos a base de poliéster sobre AACLAD 2024-T3 mediante pruebas aceleradas de corrosión
    Descripción: “... microscopía electrónica de barrido (SEM) para observar el deterioro generado por la exposición al medio...”
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